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JB_T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性 测量方法.pdf

 

JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性 测量方法:
标准号:JB/T 9495.7-1999
实施状态:现行
中文名称:光学晶体光学均匀性 测量方法
英文名称:Measuring method for optical homogeneity of optical crystal
组织分类:JB
中标分类:N05
ICS分类:17.180;31.030
标准分类:QT
发布日期:1999-08-06
实施日期:2000-01-01
代替标准:ZB N05001.7-1986
归口单位:仪表功能材料标准化技术委员会
起草单位:北京玻璃研究所
范围:本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量,测量折射率微差的精度为:△7=±1×10-⒍
文件格式:PDF
文件大小:179.91KB
文件页数:6
(以上信息更新时间为:2019-04-30)

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