标准号：YD/T 835-1996
实施状态：现行
中文名称：雪崩光电二极管检测方法
组织分类：YD
中标分类：M33
标准分类：QT
发布日期：1996-04-08
实施日期：1996-09-01
归口单位：邮电部电信科学研究规划院
起草单位：邮电部武汉邮电科学研究院电信器件公司
范围：本标准规定了带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管光电参数的检测项目及检测方法。 本标准适用于带尾纤或不带尾纤的雪崩光电二极管的光电参数检测。
文件格式：PDF
文件大小：388.38KB
文件页数：17
（以上信息更新时间为：2019-05-03）
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YD_T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法.pdf