YD_T 730-1994 光端机技术指标测试方法.pdf

标准号：YD/T 730-1994
实施状态：现行
中文名称：光端机技术指标测试方法
组织分类：YD
中标分类：M33
标准分类：QT
发布日期：1994-07-20
实施日期：1995-01-01
归口单位：邮电部电信传输研究所
起草单位：邮电部武汉邮电科学研究院
范围：本标准规定了光端机电接口和光接口指标的测试方法。包括电接口允许比特率容差、输入抖动容限、无输入抖动时的最大输出抖动、抖动转移特性、反射衰减、输出口波形、输入口抗干扰性能和过压保护性能的测试方法,以及平均发送光功率、接收机灵敏度和动态范围、平均误比特率的测试方法。 本标准适用于2048kbit/s,8448kbit/s,34368kbit/s,139264kbit/s光端机电接口和光接口指标的测试。
文件格式：PDF
文件大小：369.55KB
文件页数：13
（以上信息更新时间为：2019-05-05）

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