SJ 20789-2000 MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法.pdf

标准号：SJ 20789-2000
实施状态：现行
中文名称：MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法
英文名称：Rapid screening test methods for Thermal sensitive parameter of MOS field effect transistor
组织分类：SJ
中标分类：L44
标准分类：QT
发布日期：2000-10-20
实施日期：2000-10-20
被替代标准：
代替标准：
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：杭州电源技术研究所
范围：本规范规定了MOS场效向晶体管热敏参数快速筛选的试验方法。本规范适用于MOS场效用晶体管(以下简称电阻器)热敏参数快速筛选。
文件格式：PDF
文件大小：692.81KB
文件页数：4
（以上信息更新时间为：2019-04-28）

标准全文下载：