标准号：SJ 20785-2000
实施状态：现行
中文名称：超辅射发光二极管组件测试方法
英文名称：Measuring methods for super luminescent diode module
组织分类：SJ
中标分类：L53
标准分类：QT
发布日期：2000-10-20
实施日期：2000-10-20
被替代标准：
代替标准：
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：电子部第四十四研究所
范围：本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。本标准适用于超辐射发光二极管组件(以下简称"组件")光电参数测试。
文件格式：PDF
文件大小：3.66MB
文件页数：27
（以上信息更新时间为：2019-04-28）
标准全文下载：
点击下方链接查看更多内容。
SJ 20785-2000 超辅射发光二极管组件测试方法.pdf