SJ_T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分_频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算.pdf

标准号：SJ/T 11210-1999
实施状态：现行
中文名称：石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 4:Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance Rland the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz
组织分类：SJ
中标分类：L71
标准分类：QT
发布日期：1999-08-26
实施日期：1999-12-01
采用标准：IEC 444-4-1998,IDT
归口单位：电子工业部标准化研究所
起草单位：国营北京晨星无线电器材厂
范围：本标准规定了频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f(L)和负载谐振电阻R(L)的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC 122-1修改1中定义的负载谐振频率偏置△f(L),频率牵引范围△f(L1L2)和牵引灵敏度S。本方法采用的是测量串联谐振频率f(L)和当与晶体元件串联一个负载电容C(L)时产生的f(L)的变化(即△f(L))。测量准确度主要由频率测量的准确度和负载电容校准的准确度决定。
文件格式：PDF
文件大小：2.31MB
文件页数：15
（以上信息更新时间为：2019-04-30）

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