SJ 20438-1994 红外探测器用碲锡铅晶片测试方法.pdf

标准号：SJ 20438-1994
实施状态：现行
中文名称：红外探测器用碲锡铅晶片测试方法
英文名称：Methods for measurement of lead tin telluride slice for use in infrared detector
组织分类：SJ
中标分类：L52;L90
标准分类：QT
发布日期：1994-09-30
实施日期：1994-12-01
被替代标准：
代替标准：
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：电子工业部第十一研究所
范围：本规范规定了红外探测器用碲锡铅(Pb(1-k)S(nx)T(e))单晶片的电学参数、结构参数和组分的测试方法。本标准适用于红外探测器用碲锡铅外延衬底用单晶片的性能检测和评定,也适用于碲化铅和碲锡铅外延膜位错腐蚀坑的检测。
文件格式：PDF
文件大小：1.88MB
文件页数：11
（以上信息更新时间为：2019-05-05）

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