标准号：SJ/T 10436-1993
实施状态：现行
中文名称：半导体电阻应变计空白详细规范评定水平E
英文名称：Blank detail specification for the semiconductor resistance strain gage Assessment level E
组织分类：SJ
中标分类：L15;N62
标准分类：QT
发布日期：1993-12-17
实施日期：1994-06-01
归口单位：无
起草单位：电子工业部第四十九研究所
范围：空白详细规范是总规范的一种补充性文件,并包括详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范,则不能认为是符合电子元器件质量评定体系要求的标准。
文件格式：PDF
文件大小：1.23MB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2019-05-05）
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SJ_T 10436-1993 半导体电阻应变计空白详细规范评定水平E.pdf