SJ_T 1147-1993 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法.pdf

标准号：SJ/T 1147-1993
实施状态：已作废
中文名称：电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
英文名称：Test methods for dielectric loss angle tangent and dielectric canstant of organic film for use in capacitors
组织分类：SJ
中标分类：L90
标准分类：QT
发布日期：1993-12-17
实施日期：1994-06-01
作废日期：2017-05-12
代替标准：SJ 1147-1977
归口单位：电子工业部标准化研究所
起草单位：铜陵市薄膜电容器总厂
范围：本标准适用于厚度为2～50μm的电容器用有机薄膜在正常气候条件下或高温下,频率为50Hz,1kHz或1MHz时的介质损耗角正切值和介电常数的测定。
文件格式：PDF
文件大小：510.36KB
文件页数：3
（以上信息更新时间为：2019-05-05）

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