标准号：SJ 20348-1993
实施状态：现行
中文名称：低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法
英文名称：Methods of far-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes
组织分类：SJ
中标分类：M51
标准分类：QT
发布日期：1993-05-11
实施日期：1993-07-01
被替代标准：
代替标准：
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：电子工业部第十四研究所
范围：本标准规定了在天线测试场内,对低副辧平板裂缝天线(以下简称为天线)的方向图、增益等性能远场测试方法。本标准适用于副辧平优于-25dB的线极化平板裂缝天线的性能远场测试,对由非波导裂缝的其他辐射单元所组成的,具有一般副辧平、低副辧电平的线极化平面阵列天线性能远场测试亦可参照使用。
文件格式：PDF
文件大小：2.49MB
文件页数：14
（以上信息更新时间为：2019-05-06）
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SJ 20348-1993 低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法.pdf