SJ_T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法.pdf

标准号：SJ/T 10167-1991
实施状态：现行
中文名称：电子设备密封结构试验方法
英文名称：Test methods of densification structure for electronic equipments
组织分类：SJ
中标分类：L94
标准分类：QT
发布日期：1991-04-02
实施日期：1991-07-01
归口单位：机械电子工业部电子标准化研究所
起草单位：国营第786厂
范围：本标准规定了电子设备密封结构壳体的密封试验方法。 本标准适用于密封壳体的水密封、尘密封、气密封试验。
文件格式：PDF
文件大小：2.67MB
文件页数：15
（以上信息更新时间为：2019-05-08）

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