SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法.pdf

标准号：SJ 2658.4-1986
实施状态：已作废
中文名称：半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法
组织分类：SJ
中标分类：L53
标准分类：QT
发布日期：1986-01-21
实施日期：1986-10-01
作废日期：2016-04-01
被替代标准：SJ/T 2658.4-2015
归口单位：无
起草单位：无
范围：本标准适用于红外发光二极管电容的测试。
文件格式：PDF
文件大小：18.38KB
文件页数：1
（以上信息更新时间为：2019-05-11）

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