SJ 2658-1986 半导体红外发光二极管测试方法.pdf

标准号：SJ 2658-1986
实施状态：现行
中文名称：半导体红外发光二极管测试方法
英文名称：Method of measurement for semiconductor infrared diodes
组织分类：SJ
标准分类：QT
发布日期：1986-01-21
实施日期：1986-10-01
被替代标准：
代替标准：
采用标准：IEC及日,美标准,NEQ
归口单位：无
起草单位：电子工业部第44研究所
范围：本标准适用于半导体红外发光二极管光电参数的测试,其光电参数的测试按相应的标准和技术条件的规定进行。
文件格式：PDF
文件大小：582.96KB
文件页数：22
（以上信息更新时间为：2019-05-11）

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