标准号：SJ 2658.9-1986
实施状态：已作废
中文名称：半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法
组织分类：SJ
中标分类：L53
标准分类：QT
发布日期：1986-01-21
实施日期：1986-10-01
作废日期：2016-04-01
被替代标准：SJ/T 2658.9-2015
归口单位：无
起草单位：无
范围：本标准适用于半导体红外发光二极管辐射强度空间分布和半强度角的测试。
文件格式：PDF
文件大小：50.17KB
文件页数：2
（以上信息更新时间为：2019-05-11）
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SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法.pdf