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SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法.pdf
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my678.cn
SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法.pdf
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资料大小: 45.73 KB
上传时间: 2010-08-28
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SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法:
标准号:
SJ 2658.10-1986
实施状态:
已作废
中文名称:
半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法
组织分类:
SJ
中标分类:
L53
标准分类:
QT
发布日期:
1986-01-21
实施日期:
1986-10-01
作废日期:
2016-04-01
被替代标准:
SJ/T 2658.10-2015
归口单位:
无
起草单位:
无
范围:
本标准适用于红外发光二极管调制宽带的测试。
文件格式:
PDF
文件大小:
45.73KB
文件页数:
2
(以上信息更新时间为:2019-05-11)
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