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SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法.pdf
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SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法.pdf
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上传时间: 2011-04-01
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SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法:
标准号:
SJ 2658.2-1986
实施状态:
已作废
中文名称:
半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法
组织分类:
SJ
中标分类:
L53
标准分类:
QT
发布日期:
1986-01-21
实施日期:
1986-10-01
作废日期:
2016-04-01
被替代标准:
SJ/T 2658.2-2015
归口单位:
无
起草单位:
无
范围:
本标准适用于半导体红外发光二极管正向压降的测试。
文件格式:
PDF
文件大小:
19.01KB
文件页数:
1
(以上信息更新时间为:2019-05-11)
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