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SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则.pdf
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my678.cn
SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则.pdf
打开方式: Adobe Reader
资料大小: 277.28 KB
上传时间: 2010-07-07
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SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则:
标准号:
SJ 2215.1-1982
实施状态:
已作废
中文名称:
半导体光耦合器测试方法总则
组织分类:
SJ
中标分类:
L54
标准分类:
QT
发布日期:
1982-11-30
实施日期:
1983-07-01
作废日期:
2015-10-01
被替代标准:
SJ/T 2215-2015
归口单位:
无
起草单位:
无
范围:
本标准适用于测试半导体光耦合器电参数。
文件格式:
PDF
文件大小:
277.28KB
文件页数:
2
(以上信息更新时间为:2019-05-12)
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