标准号：SJ/T 11630-2016
实施状态：现行
中文名称：太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法
英文名称：Test method for geometric dimension of silicon wafers for solar cell
发布日期：2016-04-05
实施日期：2016-09-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：中国有色金属工业标准计量质量研究所
标准简介：本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）几何尺寸的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片几何尺寸的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前，应由供需双方协商。
文件格式：PDF
文件大小：4.60MB
文件页数：9
（以上信息更新时间为：2019-03-27）
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SJ_T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法.pdf