标准号：SJ 21343-2018
实施状态：现行
中文名称：微波元器件低温环境下S参数测试方法
英文名称：Measuring methods for microwave components and devices's scattering parameter at cryogenic temperature
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
归口单位：工业和信息化部电子第四研究院
起草单位：中国电子科技集团公司第十六研究所
文件格式：PDF
文件大小：1.51MB
文件页数：7
（以上信息更新时间为：2020-03-13）
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SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法.pdf