标准号:EN 60749-36-2003
实施状态:现行
中文名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第36部分:稳态加速 IEC 60749-36-2003
英文名称:Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36: Acceleration@ steady state
发布日期:2003-04-01
文件格式:PDF
文件大小:315.89KB
文件页数:8
(以上信息更新时间为:2019-11-30)
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