标准号:EN 60749-13-2002
实施状态:现行
中文名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分:盐性环境 IEC 60749-13-2002;部分替代 EN 60749:1999+A1-2000 和 A2-2001
英文名称:Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 13: Salt Atmosphere
发布日期:2002-08-28
文件格式:PDF
文件大小:360.46KB
文件页数:10
(以上信息更新时间为:2019-11-30)
文档语言及版本参照下方封面截图:
点击下方链接查看更多内容。