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EN 61967-6-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第6部分_传导辐射的测量.磁性探测法;包含修改件A1_2008年5月.pdf

 

EN 61967-6-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁性探测法;包含修改件A1:2008年5月:
标准号:EN 61967-6-2002
实施状态:现行
中文名称:集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁性探测法;包含修改件A1:2008年5月
英文名称:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions@ 150 kHz to 1 GHz Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method (Incorporates Amendment A1: 2008)
发布日期:2002
文件格式:PDF
文件大小:1.48MB
文件页数:46
(以上信息更新时间为:2019-11-30)



文档语言及版本参照下方封面截图:
EN 61967-6-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁性探测法;包含修改件A1:2008年5月
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