ISO 17470-2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南.pdf

标准号：ISO 17470-2004
实施状态：作废
中文名称：微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
英文名称：Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
发布日期：2004-09
被替代标准：ISO 17470-2014
代替标准：ISO/DIS 17470-2003
采用标准：BS ISO 17470-2004,IDT;GB/T 20725-2006,IDT;NF X21-003-2006,IDT;X21-003PR,IDT;JIS K 0190-2010,MOD
起草单位：ISO/TC 202
标准简介：本标准是用点至探针或者扫描电镜中的波谱仪获得试样特定体积内（μm<UP 3>尺度）的X射线谱， 进行元素鉴别和确认特定元素存在的一种标准方法。
文件格式：PDF
文件大小：503.22KB
文件页数：11
（以上信息更新时间为：2019-11-22）



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