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ISO_TR 19319-2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测.pdf

 

ISO/TR 19319-2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测:
标准号:ISO/TR 19319-2003
实施状态:作废
中文名称:表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
英文名称:Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyser
发布日期:2003-12-01
被替代标准:ISO/TR 19319-2013
起草单位:ISO/TC 201
标准简介:This Technical Report provides information for measuring (1) the lateral resolution, (2) the analysis area, and (3) the sample area viewed by the analyser in Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.
文件格式:PDF
文件大小:307.53KB
文件页数:24
(以上信息更新时间为:2019-11-22)



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ISO/TR 19319-2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
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