IEC 60747-8-3-1995 半导体器件 分立器件 第8部分_场效应晶体管 第3节_外壳额定开关场效应晶体管空白详细规范.pdf

标准号：IEC 60747-8-3-1995
实施状态：现行
中文名称：半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第3节:外壳额定开关场效应晶体管空白详细规范
英文名称：Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors - Section 3: Blank detail specification for case-rated field-effect transistors for switching applications
发布日期：1995-04
代替标准：IEC/DIS 47(CO)1350-1993
采用标准：BS QC 750114-1996,IDT
起草单位：IEC/TC 47
标准简介：The object of the quality assessment system for electronic components is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components released by one participating country as conforming with the requirements of an applicable specif
文件格式：PDF
文件大小：1.58MB
文件页数：42
（以上信息更新时间为：2019-11-25）



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