IEC 60444-6-1995 石英晶体元件参数的测量 第6部分_激励电平相关性(DLD)的测量.pdf

标准号：IEC 60444-6-1995
实施状态：作废
中文名称：石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
发布日期：1995-01
被替代标准：IEC 60444-6-2013
代替标准：IEC/DIS 49(CO)273-1994
采用标准：DIN EN 60444-6-1997,IDT;BS EN 60444-6-1995,IDT;prEN 60444-6-1996,IDT;NF C93-626-2001,IDT;C93-626,IDT;OEVE EN 60444-6-1997,IDTN-EN 60444-6-2002,IDT
起草单位：IEC/TC 49
标准简介：This part of IEC 444 applies to the measurements of drive level dependence (DLD) of quartz crystal units. Two test methods are described. Method A, based on the π-network method according to IEC 444-1, can be used in the complete frequency range covered by this part of IEC 444. Method B, an oscillator method, is suitable for measurements of fundamental mode crystal units in larger quantities with fixed conditions.
文件格式：PDF
文件大小：1.32MB
文件页数：40
（以上信息更新时间为：2019-11-25）



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