标准号:IEC 60747-7-2-1989
实施状态:作废
中文名称:半导体器件 分立器件 第7部分:双极晶体管 第2节:低频放大外壳额定双极晶体管空白详细规范
英文名称:Semiconductor devices; discrete devices; part 7: bipolar transistors; section two: blank detail specification for case-rated bipolar transistors for low-frequency amplification
发布日期:1989-01
采用标准:DIN IEC 60747-7-2-1992,IDT;BS QC 750103-1990,IDT;UTE C96-086U-1989,IDT;SEV-ASE 3608-7-2-1990,IDT;DS/IEC 747-7-2(/DEK),IDT
起草单位:IEC/TC 47
标准简介:The blank detail specification described includes mechanical description, categories of assessed quality, limiting values, electrical characteristics, marking, ordering information, test conditions and inspection requirements. To be used with IEC Publica
文件格式:PDF
文件大小:1.12MB
文件页数:32
(以上信息更新时间为:2019-11-25)
文档语言及版本参照下方封面截图:
点击下方链接查看更多内容。