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IEC 60747-3-1-1986 半导体器件 分立器件 第3部分_信号二极管(包括开关二极管)及调整二极管 第1节_信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范.pdf

 

IEC 60747-3-1-1986 半导体器件 分立器件 第3部分:信号二极管(包括开关二极管)及调整二极管 第1节:信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范:
标准号:IEC 60747-3-1-1986
实施状态:作废
中文名称:半导体器件 分立器件 第3部分:信号二极管(包括开关二极管)及调整二极管 第1节:信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
英文名称:Semiconductor devices. Discrete devices. Part 3 : Signal (including switching) and regulator diodes. Section One: Blank detail specification for signal diodes, switching diodes and controlled-avalanche diodes
发布日期:1986
采用标准:DIN IEC 60747-3-1-1991,IDT;BS QC 750001-1986,IDT;UTE C96-065U-1989,IDT;SEV-ASE 3608-3-1-1987,IDT;DS/IEC 747-3-1-1987,IDT;NEN 10747-3-1-1987,IDT
起草单位:IEC/TC 47
标准简介:Applicable to quality assessment for signal diodes, switching diodes and controlled avalanche diodes. Gives specific requirements (included in QC 750001 of the IECQ system), represents the blank detail specification.
文件格式:PDF
文件大小:987.10KB
文件页数:28
(以上信息更新时间为:2019-11-25)



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IEC 60747-3-1-1986 半导体器件 分立器件 第3部分:信号二极管(包括开关二极管)及调整二极管 第1节:信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
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