JB_T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪.pdf

标准号：JB/T 12962.3-2016
实施状态：现行
中文名称：能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪
英文名称：Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer. Part 3: Plating thickness analyzer
组织分类：JB
中标分类：N53
ICS分类：71.040.10
标准分类：QT
发布日期：2016-10-22
实施日期：2017-04-01
作废日期：    -  -
归口单位：全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会
起草单位：江苏天瑞仪器股份有限公司
范围：JB/T 12962的本部分规定了能量色散X射线荧光镀层厚度分析仪的术语和定义、测量范围、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本部分适用于采用X射线管为激发源，对镀层厚度进行无损测试的能量色散X射线荧光光谱仪(以下简称仪器)，采用其他激发源的仪器可参照使用。
文件格式：PDF
文件大小：746.97KB
文件页数：12
（以上信息更新时间为：2019-03-24）

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