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SJ_T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求.pdf

 

SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求:
本标准规定了电子元器件1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法和相应的测试系统的通用要求。

标准编号:SJ/T 11769-2020
中文名称:电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
发布日期:2020-12-09
实施日期:2021-04-01
全文页数:13


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SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
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