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SJ_T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求.pdf

 

SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求:
本标准规定了电子元器件1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法和相应的测试系统的通用要求。

标准编号：SJ/T 11769-2020
中文名称：电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
全文页数：13


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文档封面截图如下：
SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
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