本文件描述了采用辉光放电质谱法(GD-MS)测量锗酸秘(BGO)晶体中杂质元素的方法。本文件适用于BGO晶体材料中除氢和惰性气体元素以外的其他杂质元素含量的测定，测定范围为01001μg/g~1000μg/g(质量分数)。通过合适的标准样品校正，也适用于测量质量分数大于1000μg/g的杂质元素含量。
标准编号：GB/T 42518-2023
中文名称：锗酸铋(BGO)晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
英文名称：Bismuth germanate (BGO) crystal—Chemical analysis of trace elements—Glow discharge mass spectrometry
发布日期：2023-05-23
实施日期：2023-09-01
引用标准：GB/T 6682;ISO/TS 15388
提出单位：全国微束分析标准化技术委员会
全文页数：16
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GB_T 42518-2023 锗酸铋(BGO)晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法.pdf