DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范.pdf

标准号：DB51/T 3207-2024
中文名称：集成电路测试用微波探针应用规范
适用地区：四川省
行业分类：制造业
发布日期：2024-12-03
实施日期：2024-12-29
归口单位：四川省经济和信息化厅
起草单位：中国电子科技集团公司第九研究所
发布单位：四川省市场监督管理局
标准简介：本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。 本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
文件格式：PDF
文件大小：542.36KB
文件页数：10


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