SJ_T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法.pdf

标准号：SJ/T 11488-2015
实施状态：现行
中文名称：半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
英文名称：Test method for measuring resistivity,hall coefficient and determining hall mobility in semi-insulating GaAs single crystals
组织分类：SJ
中标分类：H83
ICS分类：29.045
标准分类：QT
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
作废日期：    -  -
归口单位：全国半导体设备与材料标准化技术委员会
起草单位：信息产业专用材料质量监督检验中心
范围：本标准规定了半绝缘砷化稼单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。本标准适用于电阻率在10^4Ω·cm～10^9Ω·cm范围内的半绝缘砷化稼单晶材料电学参数的测量。
文件格式：PDF
文件大小：984.33KB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2019-03-31）

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