标准号：JC/T 2026-2010
实施状态：现行
中文名称：脉冲X射线激发闪烁体荧光衰减时间测试方法
英文名称：Test method for fluorescent decay time of scintillators excited by pulsed X-ray
组织分类：JC
中标分类：Q32
ICS分类：81.060.30
标准分类：QT
发布日期：2010-11-22
实施日期：2011-03-01
归口单位：全国工业陶瓷标准化技术委员会
起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所
范围：本标准规定了室温下用脉冲X射线作为激发源测试闪烁体荧光衰减时间测试方法的术语和定义、方法提要、试验装置、测试样品、测试样品预处理和闪烁对荧光衰减时间测试等内容。本标准适用于固体闪烁体的荧光哀减时间测试,固体闪烁体形态包括薄膜、块体和粉末。
文件格式：PDF
文件大小：168.82KB
文件页数：6
（以上信息更新时间为：2019-04-11）
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JC_T 2026-2010 脉冲X射线激发闪烁体荧光衰减时间测试方法.pdf