SJ 50192_1-2002 CCK4101型有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器详细规范.pdf

标准号：SJ 50192/1-2002
实施状态：现行
中文名称：CCK4101型有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器详细规范
英文名称：Capacitors, chip, multilayer, ceramic dielectric, unencapsulated, estabilished reliability, detail specification for CCK4101 type
组织分类：SJ
中标分类：L11
标准分类：QT
发布日期：2002-01-31
实施日期：2002-05-01
被替代标准：
代替标准：SJ 20199-1992
归口单位：信息产业部电子第四研究所
起草单位：国营七一五厂
范围：本详细规范规定了CCK4101型有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器的结构、外形尺寸、额定值,以及对GJB 192A-98《有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器总规范》的补充和特殊规定。本规范适用于低损耗、电容量稳定并有规定温度系数的谐振回路和需要补偿温度效应的电路中使用的多层片式瓷介电容器。
文件格式：PDF
文件大小：103.75KB
文件页数：6
（以上信息更新时间为：2019-04-26）

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