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JR_T 0045.3-2008 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分_.pdf

 

JR/T 0045.3-2008 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分::
标准号：JR/T 0045.3-2008
实施状态：已作废
中文名称：中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分:
英文名称：China financial integrated circuit card test specifications. Part 3ebit/credit card personalization test guide
组织分类：JR
中标分类：A11
ICS分类：03.060
标准分类：QT
发布日期：2008-04-30
实施日期：2008-04-30
作废日期：2014-07-30
被替代标准：JR/T 0045.3-2014
归口单位：全国金融标准化技术委员会
起草单位：中国人民银行
范围：本部分参照《中国金融集成电路(IC)卡规范 第十部分:借记/贷记应用个人化指南》,适用于符合《中国金融集成电路(IC)卡规范》的借记/贷记应用IC卡。JR/T 0045-2008的本部分从卡片检测的角度描述了对借记/贷记卡片个人化要求,个人化包括卡片内部文件的创建、数据生成和密钥安全等。本部分适用于由银行发行或受理的金融借记/贷记应用的IC卡。其使用对象主要是与金融借记/贷记IC卡应用相关的卡片、检测、发行、受理,以及应用系统的研制、开发、集成和维护等部门(单位)。
文件格式：PDF
文件大小：1.18MB
文件页数：34
（以上信息更新时间为：2019-04-16）

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