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JB_T 7776.5-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第5部分_硫脲分光光度法测定铋量.pdf

 

JB/T 7776.5-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第5部分:硫脲分光光度法测定铋量:
标准号：JB/T 7776.5-2008
实施状态：现行
中文名称：银氧化镉电触头材料化学分析方法 第5部分:硫脲分光光度法测定铋量
英文名称：Test methods for chemical analysis silver-cadmium oxide electric contact material. Part 5etermination of bismuth content
组织分类：JB
中标分类：K14
ICS分类：29.120.20
标准分类：QT
发布日期：2008-03-12
实施日期：2008-09-01
代替标准：JB/T 7776.6-1995
归口单位：全国电工合金标准化技术委员会
起草单位：桂林电器科学研究所
范围：JB/T 7776的本部分规定了银氧化镉电触头材料中铋量的测定方法。
本部分适用于银氧化镉电触头材料中铋量的测定。测定范围：0.05%～0.50%。
文件格式：PDF
文件大小：148.98KB
文件页数：6
（以上信息更新时间为：2019-04-16）

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