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YS_T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法.pdf

 

YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法:
标准号：YS/T 666-2008
实施状态：现行
中文名称：工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文名称：Chemical analysis methods of gallium for industrial use. Determination of impurity elements. Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
组织分类：YS
中标分类：H12
ICS分类：77.120.99
标准分类：QT
发布日期：2008-03-12
实施日期：2008-09-01
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
起草单位：中国铝业股份有限公司河南分公司
范围：本标准规定了工业稼中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。
本标准适用于工业稼[99.9%≤ω(%)≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
文件格式：PDF
文件大小：180.04KB
文件页数：7
（以上信息更新时间为：2019-04-16）

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