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JB_T 5533-2007 静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法.pdf

 

JB/T 5533-2007 静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法:
标准号：JB/T 5533-2007
实施状态：现行
中文名称：静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法
英文名称：Selenium drum for electrostatic copying. Testing method of adhesive force between coating and backing
组织分类：JB
中标分类：G81
ICS分类：37.100.01
标准分类：QT
发布日期：2007-10-08
实施日期：2008-03-01
代替标准：JB/T 5533-1991
归口单位：全国复印机械标准化技术委员会
起草单位：天津复印技术研究所
范围：本标准规定了静电复印硒鼓膜层附着力试验方法,其中包括：原理、设备、试样、实验步骤和实验报告。
本标准适用于Se,Se-Te及Ae2Se3等类型硒鼓。
文件格式：PDF
文件大小：122.00KB
文件页数：6
（以上信息更新时间为：2019-04-17）

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