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SJ 20954-2006 集成电路锁定试验.pdf

 

SJ 20954-2006 集成电路锁定试验:
标准号：SJ 20954-2006
实施状态：现行
中文名称：集成电路锁定试验
英文名称：Integrated circuits latch-up test
组织分类：SJ
中标分类：L55
ICS分类：31.200
标准分类：QT
发布日期：2006-08-07
实施日期：2006-12-30
被替代标准：
代替标准：
归口单位：信息产业部电子第四研究所
起草单位：信息产业部电子第四研究所
范围：本标准规定了集成电路(IC)的电流锁定和过压锁定的试验方法。本标准的目的是建立测试IC锁定试验的方法,用来判断集成电路锁定特性并确定锁定的失效判据。锁定敏感性对于决定产品可靠性、最小无故障率(NTF)和过电应力失效(EOS)非常重要。本试验方法适用于NMOS、CMOS、双极以及各种使用此类工艺的产品。当器件被置于该试验方法出现锁定时,表明器件电性能失效,与器件特殊结构无关。
文件格式：PDF
文件大小：559.91KB
文件页数：15
（以上信息更新时间为：2019-04-19）

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