标准号：GB/T 17473.2-2008
实施状态：现行
中文名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
英文名称：Test methods of presious metals pastes used for microelectronics. Determination of fineness
组织分类：GB
中标分类：H68
ICS分类：77.120.99
标准分类：CN
发布日期：2008-03-31
实施日期：2008-09-01
代替标准：GB/T 17473.2-1998
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
起草单位：贵研铂业股份有限公司
范围：本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。
文件格式：PDF
文件大小：130.72KB
文件页数：5
（以上信息更新时间为：2019-04-16）
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GB_T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定.pdf
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