标准号：GB/T 14032-1992
实施状态：现行
中文名称：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
组织分类：GB
中标分类：L55
ICS分类：31.200
标准分类：CN
发布日期：1992-12-18
实施日期：1993-08-01
被替代标准：
代替标准：
归口单位：无
起草单位：上海元件五厂
范围：本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。
文件格式：PDF
文件大小：211.96KB
文件页数：10
（以上信息更新时间为：2019-05-07）
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GB_T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理.pdf
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