[国家标准] GB/T 11713-1989 用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法

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标准号:GB/T 11713-1989
实施状态:已作废
中文名称:用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法
英文名称:Standard methods of analyzing low specific gamma radioactivity samples by semiconductor gamma spectrometers
组织分类:GB
中标分类:C57
ICS分类:13.280
标准分类:CN
发布日期:1989-09-21
实施日期:1990-07-01
作废日期:2016-01-01
被替代标准:GB/T 11713-2015
归口单位:
起草单位:卫生部工业卫生实验所
范围:本标准规定了使用高能量分辨能力的半导体γ射线能谱仪分析低比活度γ放射性核素的固态、液态或可以转化为这两种物态的均匀样品的常规方法。本标准适用于分析活度大于谱仪的探测限L(D)〔附录A(补充件)〕,并且各核素的γ特征谱线能够分辨开的样品。因此,一般对样品只作诸如烘干、粉碎、搅匀等简单的物理处理,而不作化学分离。当必须对样品作化学分离时,其回收率等参数应按相应规程测定。
文件格式:PDF
文件大小:455.62KB
文件页数:12
(以上信息更新时间为:2019-05-08)

标准全文下载:
GB_T 11713-1989 用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法.pdf (455.62 KB)

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