标准号：ISO 18118-2004
实施状态：作废
中文名称：表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
英文名称：Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
发布日期：2004-05
被替代标准：ISO 18118-2015
代替标准：ISO/DIS 18118-2003
采用标准：BS ISO 18118-2005,IDT
起草单位：ISO/TC 201
标准简介：This International Standard gives guidance on the measurement and use of experimentally determined
relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron
spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.
文件格式：PDF
文件大小：295.16KB
文件页数：30
（以上信息更新时间为：2019-11-22）
ISO 18118-2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南.pdf
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