本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法(A和C)和一种基准测量方法(方法B)。方法A以IEC 60444-5的n型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC60444-8的x型网络或反射法为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
标准编号：GB/T 22319.6-2023
中文名称：石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量
英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 6: Measurement of drive level dependence(DLD)
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
采用标准：IDT,IEC 60444-6-2021
引用标准：IEC 60444-5;IEC 60444-8
提出单位：中华人民共和国工业和信息化部
全文页数：18
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GB_T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量.pdf
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