标准号：GB/T 4377-2018
实施状态：现行
中文名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits. Measuring method of voltage regulators
组织分类：GB
中标分类：L56
ICS分类：31.200
标准分类：CN
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
代替标准：GB/T 4377-1996
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：圣邦微电子(北京)股份有限公司
范围：本标准规定了电压调整器(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试。
文件格式：PDF
文件大小：1.24MB
文件页数：27
（以上信息更新时间为：2019-03-20）
标准全文下载：
GB_T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法.pdf
(1.24 MB)
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