标准号:SJ/T 10902-1996
实施状态:现行
中文名称:电子玻璃中二氧化硅的分析
英文名称:Determination of silica (SiO2) in electronic glass
组织分类:SJ
中标分类:L90
标准分类:QT
发布日期:1996-11-20
实施日期:1997-01-01
代替标准:GB 9000.2-1988
归口单位:无
起草单位:电子工业部标准化研究所
范围:电子破璃中二氧化硅的分析可选所列方法中的任一个,铅破璃宜用二次脱水重量法,硼破璃宜用凝聚重量-分光光度法。
文件格式:PDF
文件大小:873.40KB
文件页数:4
(以上信息更新时间为:2019-05-03)
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