标准号：SJ/T 10902-1996
实施状态：现行
中文名称：电子玻璃中二氧化硅的分析
英文名称：Determination of silica (SiO2) in electronic glass
组织分类：SJ
中标分类：L90
标准分类：QT
发布日期：1996-11-20
实施日期：1997-01-01
代替标准：GB 9000.2-1988
归口单位：无
起草单位：电子工业部标准化研究所
范围：电子破璃中二氧化硅的分析可选所列方法中的任一个,铅破璃宜用二次脱水重量法,硼破璃宜用凝聚重量-分光光度法。
文件格式：PDF
文件大小：873.40KB
文件页数：4
（以上信息更新时间为：2019-05-03）
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SJ_T 10902-1996 电子玻璃中二氧化硅的分析.pdf
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