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SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法.pdf
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麦田学社 ©
my678.cn
SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法.pdf
打开方式: Adobe Reader
资料大小: 130.6 KB
上传时间: 2010-12-16
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SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法.pdf
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SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法:
标准号:
SJ 2354.5-1983
实施状态:
已作废
中文名称:
PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
组织分类:
SJ
中标分类:
L53
ICS分类:
31.260
标准分类:
QT
发布日期:
1983-08-15
实施日期:
1984-07-01
作废日期:
2015-10-01
被替代标准:
SJ/T 2354-2015
归口单位:
无
起草单位:
无
范围:
本标准使用于PIN、雪崩光电二极管电容的测试。
文件格式:
PDF
文件大小:
130.60KB
文件页数:
1
(以上信息更新时间为:2019-05-12)
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