SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法

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查看8898 | 回复5 | 2010-12-16 21:22 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ 2354.5-1983
实施状态:已作废
中文名称:PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
组织分类:SJ
中标分类:L53
ICS分类:31.260
标准分类:QT
发布日期:1983-08-15
实施日期:1984-07-01
作废日期:2015-10-01
被替代标准:SJ/T 2354-2015
归口单位:
起草单位:
范围:本标准使用于PIN、雪崩光电二极管电容的测试。
文件格式:PDF
文件大小:130.60KB
文件页数:1
(以上信息更新时间为:2019-05-12)

标准全文下载:
SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法.pdf (130.6 KB)

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